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課程背景：

隨著IT行業(yè)電子產(chǎn)品的種類日漸增多,競(jìng)爭(zhēng)日趨激烈。所以如何把握好產(chǎn)品的質(zhì)量就成為最為重要的部分。硬件測(cè)試是電子產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段,也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),如何將測(cè)試工作開(kāi)展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多電子企業(yè)所追求的目標(biāo)。

本課程從測(cè)試的理論出發(fā),結(jié)合實(shí)際的產(chǎn)品測(cè)試經(jīng)驗(yàn),介紹了測(cè)試的目的、原理、流程和實(shí)際應(yīng)用操作,并將測(cè)試同研發(fā)、銷售和公司的市場(chǎng)推廣進(jìn)行結(jié)合,以更貼近企業(yè)的形式闡述了硬件測(cè)試在企業(yè)中的開(kāi)展方法。

培訓(xùn)對(duì)象：

公司研發(fā)主管、 產(chǎn)品經(jīng)理及開(kāi)發(fā)人員、 質(zhì)量管理人員、測(cè)試人員

課程大綱：

一、硬件測(cè)試概述

①硬件測(cè)試的目的

②硬件測(cè)試的意義

③目前業(yè)界硬件測(cè)試的開(kāi)展情況

④在企業(yè)生產(chǎn)價(jià)值鏈中的地位

⑤硬件測(cè)試對(duì)公司形象和公司發(fā)展的重要性

二、測(cè)試準(zhǔn)備

①檢視

②FMEA（故障模式影響分析）

③故障處理

④測(cè)試計(jì)劃和測(cè)試用例

三、硬件測(cè)試種類與操作

①指標(biāo)測(cè)試

②功能測(cè)試

③容限測(cè)試

④容錯(cuò)測(cè)試—FIT

⑤長(zhǎng)時(shí)間驗(yàn)證測(cè)試

⑥可靠性數(shù)據(jù)預(yù)計(jì)

⑦一致性測(cè)試

⑧評(píng)審

四、硬件測(cè)試的級(jí)別

①黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試

②單元測(cè)試

③系統(tǒng)測(cè)試

五、可靠性測(cè)試

①EMC

②環(huán)境

③安規(guī)

④老化

六、測(cè)試問(wèn)題

①測(cè)試問(wèn)題的確認(rèn)

②測(cè)試問(wèn)題的定位

③測(cè)試問(wèn)題反饋方式和流程

④測(cè)試問(wèn)題跟蹤和解決流程

七、測(cè)試效果評(píng)估

①測(cè)試報(bào)告

②評(píng)審歸檔

③案例和checklist

④測(cè)試方法總結(jié)

⑤遺留問(wèn)題處理

⑥市場(chǎng)規(guī)模應(yīng)用跟蹤

⑦產(chǎn)品故障率統(tǒng)計(jì)

八、測(cè)試規(guī)范制定

①建立規(guī)范的重要性

②需要哪些規(guī)范

③規(guī)范的制定準(zhǔn)則

九、測(cè)試人員的等級(jí)認(rèn)證

《硬件測(cè)試技術(shù)》

十、SI簡(jiǎn)介

①SI的重要性

②學(xué)習(xí)SI的目的

③SI的內(nèi)容

④理想邏輯電壓波形

⑤實(shí)際邏輯波形

⑥數(shù)據(jù)采樣及時(shí)序的例子

十一、常見(jiàn)的SI問(wèn)題

①信號(hào)質(zhì)量與時(shí)序的關(guān)系

②最常見(jiàn)的三種信號(hào)問(wèn)題

③反射

④串?dāng)_

⑤電源/地噪音

⑥EMC/EMI跟SI關(guān)系

⑦SI問(wèn)題的影響

⑧產(chǎn)生SI問(wèn)題的地方

⑨工藝與頻率的關(guān)系

⑩工藝與SI的關(guān)系

十二、SI分析

①在設(shè)計(jì)流程中的SI分析

②前期分析

③后期分析

④SI工程師的重要性

⑤SI分析原則

⑥集中式電路和分布式電路模型

⑦如何選擇模擬電路模型

⑧例子

十三、電子設(shè)計(jì)中的SI問(wèn)題

①上升時(shí)間和信號(hào)完整性

②傳輸線的種類

③反射產(chǎn)生原因

④如何消除反射

⑤串?dāng)_產(chǎn)生原因

⑥如何消除串?dāng)_

⑦電源/地噪音的種類

⑧電源/地噪音的副作用

⑨如何消除電源/地噪音

⑩電源/地模型

十四、建模與仿真

①幾種常見(jiàn)的電磁建模技術(shù)

②好的SI仿真工具應(yīng)具備那些因素

③常見(jiàn)的SI工具

十五、信號(hào)完整性的例子

①舉例模型

②SI分析

③仿真結(jié)果

④噪音來(lái)源及解決辦法

程老師

資深講師,研發(fā)工程技術(shù)產(chǎn)線總監(jiān)、APECG測(cè)試工程首席專家 、中國(guó)電子協(xié)會(huì)ATE測(cè)試分會(huì)會(huì)員.

◆主講品牌課程：硬件測(cè)試管理、DFT可測(cè)試性設(shè)計(jì)、硬件開(kāi)發(fā)管理

◆工作經(jīng)驗(yàn)：華為公司從事通訊產(chǎn)品可測(cè)試設(shè)計(jì)的研究及開(kāi)發(fā)工作，曾參與大型程控交換機(jī)、光通信產(chǎn)品、會(huì)議電視系統(tǒng)項(xiàng)目的可測(cè)試及可制造性工程實(shí)施，歷任華為中央硬件研發(fā)平臺(tái)部開(kāi)發(fā)經(jīng)理，兆天網(wǎng)絡(luò)中試部經(jīng)理。

◆工作專長(zhǎng)：測(cè)試工程、工藝工程、硬件工程。

◆項(xiàng)目實(shí)踐：曾作為兆天網(wǎng)絡(luò)、UT斯達(dá)康、邁瑞、核達(dá)中遠(yuǎn)通、飛通光電、桑達(dá)龍金可測(cè)性工程咨詢首席顧問(wèn)，具體包括在研發(fā)體系中如何通過(guò)可測(cè)性工程實(shí)施來(lái)提高產(chǎn)品可測(cè)試性。

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在線報(bào)名：硬件測(cè)試管理(上海)